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双轴扫查装置

1049   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:44
本实用新型公开了无损检测技术领域的一种双轴扫查装置,包括扫查轴,扫查轴用于与待检测工件连接固定;第一编码器,第一编码器设置于扫查轴上,并与待检测工件可相对移动;步进轴,步进轴垂直扫查轴设置,并与第一编码器连接;第二编码器,第二编码器可轴向移动的设置于步进轴上;探头架,探头架设置于所述第二编码器上,用于固定超声相控阵探头。本实用新型通过第一编码器的移动带动步进轴在待检测工件上移动,通过第二编码器的移动带动探头架在待检测工件上移动,实现对待检测工件的全面扫查;通过第一编码器和第二编码器对超声相控阵探头的位置进行检测,实现对待检测工件缺陷位置的精确定位。
声明:
“双轴扫查装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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无损检测
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