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IGBT器件低频噪声可靠性评价方法

976   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:43
一种IGBT器件低频噪声可靠性评价方法,涉及IGBT功率器件可靠性分析领域,解决现有IGBT器件的可靠性研究方法均为有损和破坏性检测。在检测过程中,IGBT器件会瞬间发生损坏或随着时间的增加,IGBT器件的重要电学参数发生变化,造成被测IGBT器件无法正常工作,且不能对IGBT器件的隐性故障时行评价等问题,本发明提出了IGBT低频噪声可靠性评价方法。预测和评系统中IGBT的状态和实际可达到的可靠性,确保电能转换系统以及整个系统的安全运行。相对于现在的IGBT可靠性评价方法,符合隐性故障预测,无损分析,准确可靠的要求。能够客观实现IGBT器件可靠性无损准确评价,反应IGBT器件的实际低频噪声情况,具有方法科学、适用,评价准确、快捷等优点。
声明:
“IGBT器件低频噪声可靠性评价方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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