本发明公开一种太赫兹图像聚类分析方法及系统,包括:生成样本的太赫兹无损检测图像库;遍历所述太赫兹无损检测图像库选出待检索图像;提取所述待检索图像和所述图像库中所有图像的特征点;随机生成多个初始聚类中心;根据所述初始聚类中心对所有的所述特征点进行聚类;统计所述待检索图像和所述图像库中每张图像在每个聚类中的特征点个数,根据所述特征点个数与设定维度构建特征向量;每张图像对应一个多维的特征向量;计算所述待检索图像的特征向量与所述图像库中所有图像特征向量的匹配度,得到一组匹配度最高的图像。采用本发明中的方法或系统实现了检测目标缺陷的全方位、定性的准确识别。
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