通过一个五步骤处理来降低CMOS有源像素传感器中的每个像素的读出噪声,在该五步骤处理中,在一个传感器帧时间段期间对来自该传感器的像素电荷数据进行多次无损采样,且针对增益变化和非线性校正该像素电荷数据。然后,估计固定图案噪声和暗电流噪声,且将其从经校正的像素电荷数据减去。接下来,估计复位噪声,且将其从该像素电荷数据中减去。在步骤四中,将电荷与时间的关系的模型函数拟合到经校正的像素电荷数据样本。最后,在帧边界时间处评估经拟合的模型函数。
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“用于X射线衍射测量的具有针对非理想传感器行为的校正的多次采样CMOS传感器” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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