本发明提供了一种基于表面图像灰度信息测量C/SiC
复合材料加工表面粗糙度的方法。该方法通过采集C/SiC复合材料加工表面的图像并提取灰度信息来进行粗糙度测量。关键是图像的处理和灰度信息与粗糙度关系的建立。本发明利用matlab进行图像的灰度化、局部灰度值修正和灰度信息的提取,通过多个试样的灰度信息和粗糙度数据建立灰度与粗糙度的关系。该方法的优点是非接触、无损伤,同时解决了C/SiC材料表面由于存在孔隙而导致的粗糙度难以测量的问题。
声明:
“基于图像灰度信息测量C/SiC复合材料加工表面粗糙度的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)