本实用新型公开了一种电容温度特性测试夹具,具体地说是一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具,包括底座和安装在底座上的夹具,所述夹具包括设置在底座上方的绝缘板和连接在绝缘板上的支架,所述绝缘板与底座平行设置,所述支架的下端固定连接到底座上,所述底座与绝缘板之间竖直设置多根弹簧顶针,所述弹簧顶针的下端固定连接上电极,位于上电极下方的底座上端面设置凹槽,由于采用了上述技术方案,本实用新型所述的一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具,非破坏性测试,夹具可以重复应用,对产品金层及基体无损伤,简化了操作,测试精确度高。
声明:
“用于单层片式瓷介电容器测试的夹具” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)