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基于椭偏仪的薄膜温度测量方法

1130   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:38
本发明属于温度测量技术领域,具体为一种基于椭偏仪的薄膜温度测量方法。本发明利用椭偏仪测量被测薄膜的折射率谱线与标准折射率谱线,将两者比较,采用最小二乘法得到最佳匹配曲线,从而根据标准谱线所对应的温度值得到被测薄膜的温度值。本发明可非直接、无损耗地测量固体薄膜实时或非实时温度。测量过程中对薄膜材料没损伤,当实验条件不发生明显变化时,该方法具有较高的置信度。当标准折射率谱的温度间隔取得较小时,该方法具有较高的精度。
声明:
“基于椭偏仪的薄膜温度测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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