本发明提供了一种测量非透明薄膜厚度分布的双面干涉装置和方法,所述方法设置了两个物光对向、共轴的白光干涉光路,位移台带动厚度标样或薄膜样品沿物光光轴方向步进运动,同时,两个面阵探测器采集厚度标样或薄膜样品表面的形貌信息,通过厚度标样标定两个干涉物镜的干涉焦面间的距离,进而计算薄膜样品厚度分布,应用本方法制成的测量装置,无需辅助夹具,可实现非透明薄膜厚度分布的快速、无损和精确测量。
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