合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 测量非透明薄膜厚度分布的双面干涉装置和方法

测量非透明薄膜厚度分布的双面干涉装置和方法

850   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:38
本发明提供了一种测量非透明薄膜厚度分布的双面干涉装置和方法,所述方法设置了两个物光对向、共轴的白光干涉光路,位移台带动厚度标样或薄膜样品沿物光光轴方向步进运动,同时,两个面阵探测器采集厚度标样或薄膜样品表面的形貌信息,通过厚度标样标定两个干涉物镜的干涉焦面间的距离,进而计算薄膜样品厚度分布,应用本方法制成的测量装置,无需辅助夹具,可实现非透明薄膜厚度分布的快速、无损和精确测量。
声明:
“测量非透明薄膜厚度分布的双面干涉装置和方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记