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基于微波透射法的金属薄膜厚度测量方法

935   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:38
本发明公开了一种基于微波透射法的金属薄膜厚度测量方法,包括如下步骤:选取与待测样品工艺参数相同的样品作为校准样品;测量校准样品的方块电阻、膜厚、插损;依据校准样品测试数据获得金属薄膜插损‑膜厚关系曲线;测量待测样品的插损;依据插损‑膜厚关系曲线和待测样品的插损计算得到待测样品的金属薄膜厚度。本发明实现无损测量金属膜厚,而且能广泛应用于集成电路、太阳能电池、探测器等领域,具有一定的普适性。
声明:
“基于微波透射法的金属薄膜厚度测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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