本发明公开了一种基于微波透射法的金属薄膜厚度测量方法,包括如下步骤:选取与待测样品工艺参数相同的样品作为校准样品;测量校准样品的方块电阻、膜厚、插损;依据校准样品测试数据获得金属薄膜插损‑膜厚关系曲线;测量待测样品的插损;依据插损‑膜厚关系曲线和待测样品的插损计算得到待测样品的金属薄膜厚度。本发明实现无损测量金属膜厚,而且能广泛应用于集成电路、
太阳能电池、探测器等领域,具有一定的普适性。
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