本发明公开了一种微波器件测试用压紧装置,涉及半导体器件测试工具技术领域。包括压块和通过压块上的螺钉孔能与测试平台紧固的螺钉,所述压块绝缘材料构成,压块底面设有微波器件端脚压紧凸起和微波器件适配的器件凹槽。本发明能够保证微波器件在测试过程中与微带线始终压紧,保证微波器件测试的稳定性和准确性,以及微波器件的无损性,本发明结构简单、成本低廉、通用性强、易于实现,保证了相关科研生产顺利进行。
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