合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> DRIE工艺误差监测系统及方法

DRIE工艺误差监测系统及方法

938   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:38
本发明属于MEMS器件加工监测技术领域,公开了一种DRIE工艺误差监测系统及方法。本发明结合测试数据库和有限元仿真数据库,可获得晶圆由于工艺误差引起的特征尺寸损耗、侧壁陡直度和倾斜度的实际误差值。本发明能够在不破坏晶圆的情况下,实现对DRIE工艺多参数晶圆级无损监测,可获取晶圆上局部或整体区域的具体参数,保证了监测数据的有效性和准确性,对于提高基于DRIE工艺的MEMS器件性能有重要意义。
声明:
“DRIE工艺误差监测系统及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记