本发明公开了一种二端口微带器件测试装置,其包括X轴位移平台、射频连接器载台A、射频连接器载台B、Z轴位移平台A、Z轴位移平台B,X轴位移平台、承托板载台A和承托板载台B、承托板、滚珠弹簧螺丝和待测件载台;其中,所述射频连接器载台A和射频连接器载台B能够在所述X轴位移平台沿X方向移动;滚珠弹簧螺丝设置于所述承托板载台A和承托板载台B的腔体内且位于所述承托板下方;待测件载台位于所述射频连接器载台A和射频连接器载台B之间的承托板上。通过本发明,可快速高效完成器件测试,且使用压接的方法完成微带线的连接,不需要焊接,无损测试;且适用于各种微带线器件,不同长度、不同宽度和不同介质厚度均可使用。
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