本实用新型涉及半导体激光器
芯片生产加工领域,具体公开了一种测试夹具,包括载台、盖板、挡板、滑轨、压块和绝缘软垫,待测试芯片置于盖板上,一侧与挡板接触,实现限位,盖板和挡板与载台固定连接;待测试芯片的上方设有压块,压块置于滑轨内并可上下活动,压块的下端设有绝缘软垫,绝缘软垫在与待测试芯片上电极接触的部位设有第一导电膜,盖板与待测试芯片的下电极接触的部位设有第二导电膜,第一导电膜和第二导电膜分别通过导线与测试仪连接。本实用新型还包括压紧机构,通过螺栓调节压力,第一导电膜与绝缘软垫之间设有压力传感器,通过压力传感器的读值调节测试压力。本装置不需频繁更换测试探针,提高测试效率,对测试芯片电极无损伤。
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我是此专利(论文)的发明人(作者)