本发明提供一种非绝热材料内部缺陷埋深的探测方法及系统,该方法包括:采集和保存非绝热材料表面的红外热图像;分析非绝热材料表面温度场,识别内部缺陷在材料表面所对应的位置;提取缺陷区域表面温度值T1和无缺陷区域表面温度值T2,获取不同时刻t下的温差ΔT=T1‑T2;求解各时刻不同温差所对应的缺陷埋深的计算值;分析最佳时间,获取最终确定的缺陷埋深。本申请提供的非绝热材料内部缺陷埋深的探测方法,实现对非绝热材料内部缺陷的无损、快速、非接触、无磁、便捷的探测,一方面其探测深度更深,另一方面其受被测材料属性的影响较小,可以适用于各类岩体、金属或混凝土内部的分层、孔洞或裂隙等缺陷的埋深探测。
声明:
“非绝热材料内部缺陷埋深的探测方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)