本发明提供了一种环栅器件制备的测试方法与系统,其中,将拉曼测试装置引入到环栅器件制备的工艺环节,进而,能够在生长外延层后、刻蚀鳍片后、源漏外延(且伪栅极被去除)、释放牺牲层后、HKMG包裹沟道后、后等至少之一时间点对沟道对应位置的应力进行测试,在此基础上,测试结果可反应出沟道对应位置应力随制备工艺环节的变化。其中,由于拉曼测试装置的测试光的光斑面积较小,进而,可在测试中表征出较小尺寸的结构应力,同时,该过程中,也不会对样品表面产生损伤。可见,本发明能够在无损的情况下准确对各工艺环节下沟道对应位置的应力进行测试与表征,为制备工艺的进一步分析与改进提供准确、充分的依据。
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