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集成电路测试装置

760   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:33
本实用新型提供的一种集成电路测试装置,包括集成电路测试座,集成电路测试座的顶部向内凹设有测试槽,测试槽内壁两侧相对设置有限位槽,限位槽内均滑动安装有滑块,两个滑块相互靠近的一端上均设置有卡块,两个滑块相互背离的一端上均安装有拉杆,拉杆延伸至集成电路测试座外并固定安装有把手,拉杆上套设有弹簧,弹簧的一端连接所述滑块,弹簧的另一端连接限位槽内壁。采用上述技术方案,进行测试时,当接触件出现氧化或损坏的情况时,只需向外拉动拉杆,使卡块不再抵持在测试板的上表面,便能将测试板快速取出,再将正常无损坏的测试板底部的接脚对准集成电路测试座的接触件,向下按压,便能将测试板快速固定在测试槽内,实现测试板的快速更换。
声明:
“集成电路测试装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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