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基于双镜反射的均匀应变光学测量装置及方法

781   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:33
本发明公开了一种基于双镜反射的均匀应变光学测量装置,包括光源、第一反射镜、第二反射镜、摄像机和处理器;光源用于产生非相干光,照射被测样品的第一被测面和第二被测面,第一被测面和第二被测面相互平行,且第一被测面和第二被测面均与摄像机光轴平行;第一反射镜,用于使第一被测面经其反射至摄像机镜头并成像;第二反射镜,用于使第二被测面经其反射至摄像机镜头并成像;摄像机,用于在同一幅图像中同时采集第一被测面和第二被测面的图像,并传输至处理器进行处理,得到被测样品的应变。本发明还公开了一种基于双镜反射的均匀应变光学测量装置的测量方法,本发明能够对有初始弯曲的被测样品进行无损测量,修正离面刚体位移引起的虚假应变。
声明:
“基于双镜反射的均匀应变光学测量装置及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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