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用于晶片表面平整度测量的工装

902   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:33
本发明公开了一种能够快速并准确测量晶片表面平整度,并且不会对晶片产生划伤、压碎、磕边、污染等不良现象的用于晶片表面平整度测量的工装,包括水平设置的底座,底座上设置有晶片放置区,支架位于底座上,支架上设置激光测距仪以及用于带动激光测距仪运动的有X轴平动机构和Y轴平动机构,所述激光测距仪竖直设置。采用本发明的用于晶片表面平整度测量的工装,使用时通过激光测距仪的测点在晶片表面行走的方式,测量激光测距仪到镜片表面各个测点的距离,通过比对所测距离数值,就能够判断晶片表面是否平整。本发明结构简单,能够有效避免现有技术中的缺陷,保证晶片表面的完好无损,同时测量精度高,测量速度快。
声明:
“用于晶片表面平整度测量的工装” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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