本发明提供了一种镜面三维变形的高精度测量方法,涉及材料测试及光学实验技术领域。所述方法包括以下步骤:S1、布置测量系统;S2、调节成像系统与标定;S3、获取图像序列;S4、计算。本发明对彩色相机采集到的每一张图片进行通道分离,得到的每一组单通道图片都是同一时刻同一角度且同一状态下的,不必考虑同步触发及环境等问题,因此该方法排除了所有可能影响测量结果的因素,极大地提高了测量精度,另外采用单相机即可对镜面被测物实现非接触无损三维测量。
声明:
“镜面三维变形的高精度测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)