本实用新型公开了一种磁环高度和尺寸综合测量设备,涉及测量设备设计技术领域,本实用新型包括综合测量设备框架、激光测距仪、视觉测量仪、待测平台以及总控机箱,综合测量设备框架包括激光测距仪固定架以及相机高度调节架,激光测距仪包括滑动电机,激光测距仪固定架一表面设有滑槽,滑动电机一端与滑槽滑动配合,视觉测量仪包括相机固定架,相机固定架一表面与相机高度调节架通过螺纹螺孔连接,综合测量设备框架下表面设有定位孔,待测平台一表面与定位孔旋转配合,待测平台包括传动履带,传动履带一表面与旋转轴滑动配合,本实用新型中,无损测量保证产品生产质量,本发明有效的融合两者的功能,将2台设备综合成一台。
声明:
“磁环高度和尺寸综合测量设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)