本发明公开了一种绝缘子的表面藻类密度的测算方法,包括:根据待测绝缘子所在地区,确定所述待测绝缘子的表面积累的灰密和藻细胞直径;获取所述待测绝缘子表面图像;计算所述待测绝缘子表面图像中藻类区域的特征绿值;根据所述待测绝缘子表面图像中的藻类区域的特征绿值、表面积累的灰密、藻细胞直径以及所述待测绝缘子的硅橡胶颜色,基于预先构建的藻类密度计算公式,计算所述待测绝缘子的表面藻类密度。本发明还公开了相应的测算装置,采用本发明实施例,通过读取待测绝缘子的图像中的特征绿值,以计算得到待测绝缘子表面的藻类密度,能够快速简便地获取绝缘子表面的藻类密度,实现无接触无损测算藻类密度。
声明:
“绝缘子的表面藻类密度的测算方法和装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)