本发明公开了一种测量装置,涉及测量设备技术领域。该测量装置包括机架、承载机构、扫描机构、第一测量机构和第二测量机构。承载机构设在机架上,承载机构用于承载试样。扫描机构可活动地设在机架上,扫描机构与试样之间具有间隙,扫描机构用于测量试样的截面尺寸。第一测量机构可活动地设在机架上,第一测量机构与试样之间具有间隙,第一测量机构用于测量试样各区域的厚度参数。第二测量机构可活动地设在机架上。该测量装置能够降低试样的测量难度,提高试样的测量精度和测量效率,特别适合软体材料、变截面产品的非接触式无损三维尺寸的快速测量、动态弹性模量表征以及后期全尺寸范围的自定义形变计算。
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