本发明公开了一种中子衍射残余应力测定装置与方法,该装置使用反应堆中子源,经过单色器单色化后,得到所需的某一波长的单色中子束流,并利用该中子束流进行残余应力的测定。由于中子不带电荷,和物质相互作用时与核外电子几乎没有作用,不需克服电荷库仑力障碍,因而能量较低的中子也能进入到原子内;大多数材料对中子吸收也很低,所以入射中子束的穿透深度较深。同时通过准直器和狭缝准直、限定的中子束流还具有很高的空间分辨率,通过三个方向互相垂直的平移与绕测试中心点转动来实现被测试件的三维、无损和深度的应力测试工作,克服了X射线和同步辐射残余应力测定装置只能无损测定晶体材料表面及近表面残余应力的不足。
声明:
“中子衍射残余应力测定装置与方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)