合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 差动共焦干涉元件多参数测量方法与装置

差动共焦干涉元件多参数测量方法与装置

990   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:32
本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种差动共焦(共焦)干涉元件多参数测量方法与装置。本发明的核心思想是利用差动共焦(共焦)测量系统测量球面元件表面曲率半径、透镜顶焦距、透镜折射率、透镜厚度以及镜组轴向间隙,利用面形干涉测量系统测量元件表面面形,可实现元件多个参数的同时测量,测量精度高。本发明首次将差动共焦(共焦)探测系统和面形干涉测量系统相融合,测量参数全面,且在元件多个参数测量过程中,无需重新调整光路,拆卸被测元件,对被测元件无损伤,测量速度快。
声明:
“差动共焦干涉元件多参数测量方法与装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记