公开了一种太赫兹频段RCS测量用支架材料的选取方法,包括:选取M种泡沫材料作为测试样品;对于选取的每种泡沫材料,通过太赫兹时域光谱测量系统测量未放置测试样品时的时域光谱Er, i(t)、以及放置测试样品时的时域光谱Es, i(t);对Er, i(t)、Es, i(t)进行傅里叶变换,以获取频域光谱Er, i(w)、Es, i(w);然后,根据Er, i(w)、Es, i(w)、以及泡沫材料的厚度di,计算该泡沫材料的折射率谱ni(w);对于选取的每种泡沫材料,计算其折射率谱的折射率均值以及的值,并且,将取最小值的泡沫材料作为太赫兹频段RCS测量用支架材料。本发明通过太赫兹时域光谱技术,便于快速、无损的分析材料的电磁散射特性,进而在样品中迅速找到适用于太赫兹频段RCS测量的支架材料。
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