合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 结构光调制的暗场显微缺陷三维测量系统

结构光调制的暗场显微缺陷三维测量系统

768   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:32
本实用新型公开了一种结构光调制的暗场显微缺陷三维测量系统,包括光源、空间光调制器、第一透镜、分光镜、显微物镜、第二透镜、第三透镜、滤波器、第四透镜和CCD;所述空间光调制器用于接收光源发出的光并调制成结构光;所述空间光调制器调制的结构光依次经过第一透镜、分光镜和显微物镜微缩投影至样品上并在样品上反射形成零级光和一级光;所述零级光依次经过显微物镜、第二透镜和第三透镜达到滤波器;所述一级光依次经过显微物镜、第二透镜、第三透镜和第四透镜到达CCD成像。本实用新型解决了现有无损检测方法存在照明背景光和离焦光干扰缺陷散射光成像的问题。
声明:
“结构光调制的暗场显微缺陷三维测量系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记