一种纳米薄膜微波电磁参数测试装置,涉及材料电磁参数的检测。设有微带夹具、微波矢量网络分析仪、GPIB数据采集卡、计算机;微带夹具由L型底座、上导带、可调短路片、SMA连接头、屏蔽罩和固定平台构成;L型底座一端设圆孔,另一端设台阶;可调短路片两端开槽;SMA连接头安装于L型底座上,SMA连接头与微波矢量网络分析仪的同轴电缆连接,被测纳米薄膜样品放置位置为输入端与可调短路片的中心位置;微带夹具锁定在固定平台上,固定平台的四角装有高度可调的支撑杆,固定平台面上均匀刻上标有刻度的一组水平线,在固定平台上锁定两片弹簧卡片,两片弹簧卡片分别放置在微带夹具的终端与侧面。测量精确、无损伤、操作简便。
声明:
“纳米薄膜微波电磁参数测试装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)