本发明公开了一种测量光纤、光纤预制棒以及具有径向折射率分布和非零定常透射率的物体的几何参数及折射率分布的测量方法。它利用横向前射光的光强分布直接对由于折射率变化引起了变化的横向前射光光线轨迹进行多点测量,确定出轨迹函数,从而计算出折射率分布,并利用光强分布的特征点,测量几何参数。本测量方法是一种无损检测方法,测量直观、精度高。
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