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磁性芯片磁参数批量化测试系统

720   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:31
磁性芯片磁参数批量化测试系统,包括磁场发生装置,位于磁场发生装置磁场区域的测试平台,被测芯片放置在测试平台上,磁场发生装置连接电源和调压器,磁场发生装置通过控制电路模块连接处理器装置;被测芯片通过数据采集模块连接处理器装置。本实用新型一种磁性芯片磁参数批量化测试系统,可对芯片的磁性能进行批量的、快速的、无损的检测。
声明:
“磁性芯片磁参数批量化测试系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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无损检测
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