本发明公开了一种涂层残余应力的测试方法,涉及残余应力无损检测技术领域。本发明所述测试方法包括如下步骤:(1)利用X射线衍射法测定涂层中的物相及相应的晶体结构;(2)采用掠入射法获得衍射图谱;(3)采用Rietevield法进行全谱拟合,通过拟合得到的峰位偏差值计算所述涂层的残余应力。本发明所述测试方法简单,并且可以对复杂的应力状态进行分析,准确度较高。
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