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基于SiPLS的近红外光谱法测定大米中水分含量的方法

1137   编辑：管理员   来源：中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:31
本发明公开了一种基于SiPLS的近红外光谱法测定大米中水分含量的方法，包括：采用X‑Y残差分析法对异常样本进行了剔除，运用经典Kennard‑Stone法对校正集及预测集样本进行了选取，利用二阶导数对近红外光谱进行了预处理优化，采用SiPLS法将光谱划分为25个子区间，利用其中的第3、9、18、20号4个子区间联合建立了大米中水分模型，校正集决定系数为0.9573，校正集均方根误差为0.3886。利用40个验证集样品对定标模型进行了验证，预测相关系数达0.9625，平均预测回收率为100.27％，说明模型具有良好的预测能力。相较于全谱建模，采用SiPLS法建立的模型不仅精简，还提高了模型的预测精度。本发明的方法作为一种准确、无损、环保的检测手段，能够用于大米中水分含量的快速测定。
声明：
“基于SiPLS的近红外光谱法测定大米中水分含量的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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