本发明公开了一种测量光刻胶掩模槽形结构参数的方法,其特征在于:采用TE/TM线偏振光为入射光,入射角为被测掩模的闪耀角,分别测量标准反射片的反射光的光谱分布D0(λ);被测掩模的反射衍射零级复色光的光谱分布D(λ);采用比较法,计算出介质膜光栅掩模实际的反射衍射零级的光谱分布Rg(λ),对其进行光谱反演,得到掩模的槽形参数:光刻胶的剩余厚度、槽深和占宽比。本发明实现了对于面积、重量均较大的待测掩模的槽形参数的无损检测;且可以避免测量系统的误差,对光谱仪测量系统以及光源没有特别要求,测量方法简单易行。
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