本发明涉及一种铁磁性材料表面非铁磁材料厚度测量方法及装置,该方法通过将激励探头置于具有不同厚度非铁磁材料的标准试块上,并对激励探头的激励线圈上施加正弦信号,使之产生磁场,并在“U”型磁轭与铁磁性材料表面形成闭合磁路;然后利用检测探头拾取在提离过程中磁路内磁场变化信息,将检测到的磁信号转化成电压信号,并将电压信号输送至PC机,计算得到厚度值;这样,即可对铁磁性材料表面的非铁磁性材料厚度进行测量,具有无损、快速,准确等优点,而且该装置包括依次连接的激励模块、探头模块、信号处理模块、信号采集模块、PC处理显示模块,整个装置抗干扰性强,操作简单,在厚度测量领域具有广阔的应用前景。
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