合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 探测二维纳米结构材料薄膜表面缺陷的方法

探测二维纳米结构材料薄膜表面缺陷的方法

763   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:28
本发明公开了一种用于二维纳米结构材料薄膜表面的缺陷分布的探测方法,涉及材料表面缺陷及其分布检测领域。该方法首先将样品进行预先烘干,将样品表面的水分子清除掉,通过水蒸气喷射装置将水蒸气和其他气体的混合气体流通过样品表面,进行凝结操作;获取薄膜材料表面水珠在单次和多次凝结情况下的形态、数量和分布特征,确定样品表面的缺陷分布规律。本发明由于二维薄膜材料表面对水分子的吸附、凝结过程通常在毫秒的时间内完成,所以缺陷的检测非常迅速;且该方法利用去离子水蒸气,对材料表面温和,只需后续烘干即可将样品恢复至原始的状态,故该方法对待检样品是无损的。
声明:
“探测二维纳米结构材料薄膜表面缺陷的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记