本发明涉及化学检测领域,尤其涉及一种表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法;本发明通过对表面镀膜金片进行脱膜前处理,再利用X射线荧光光谱法进行金含量检测;其中脱膜前处理溶胶步骤只针对膜上的胶体反应,对金层无反应,不仅能够快速便捷的将膜与金层分离,且能较大程度的保持金层的完整;脱膜的金片可以便捷进行X射线荧光光谱检测,解决了覆膜带来的测试结果失真问题,而且能准确的测出金质量,均很好的满足了快速、准确、无损耗的检测要求。
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