本发明公开了一种内嵌微流道的LTCC基板测试方法和装置,该方法包括对LTCC基板样品进行初步检测;对通过初步检测的LTCC基板样品分别进行低温贮存测试、高温贮存测试和高低温循环测试,并对每次测试后的LTCC基板样品进行检测。该方法和装置对内嵌微流道的LTCC基板进行了低温贮存、高温贮存、温度循环等系列环境科目测试,检测内嵌微流道LTCC基板的质量无损和结构完整性,得出其在地面模拟使用环境中是否可靠的定性结论。
声明:
“内嵌微流道的LTCC基板测试方法和装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)