本发明属于元素
分析检测技术领域,特别涉及一种快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪及分析方法。分析仪包括机柜(101)、电脑(102)、样品腔室(303)、X射线光管(301)、探测器(302)、样品杯(305)、高压电源(306)、升降平台(201)和
真空泵;分析方法为:将表面光洁待测样品(501)装入样品杯(305)中,通过电脑(102)控制升降平台(201)将样品杯(305)向上升起,进入样品腔室(303)内的检测位置并采用无油真空泵快速抽真空,可同时测定痕量多个轻元素;检出限可低至1ppm。本发明能够极大降低空气对轻元素特征谱峰的吸收,降低检出限;整个测试无耗材,具有操作简单、无损快速、精确定量、低成本等特点。
声明:
“快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪及分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)