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晶体管反偏二次击穿测试装置

775   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:27
本发明的装置对被测器件施加连续脉冲功率,当发生反偏二次击穿时,通过设置在基极电路中的反偏二次击穿检测器检测射频振荡,而后经单稳、R-S触发器进行反偏二次击穿指示、读数、终止测试一系列操作。与此同时,从被测器件的集电极设置一套独立的保护电路。该电路检测在集电极出现的任何负沿,并加以保护,由于负沿触发的高速度可以实现无损伤测试。又由于该高速保护电路所固有的微小延迟与SB检测器射频检测的脉冲形成电路的时间差,使保护与SB指示二者互不影响。
声明:
“晶体管反偏二次击穿测试装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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