合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 用底片黑度值测算匀质材料厚度的方法

用底片黑度值测算匀质材料厚度的方法

621   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:27
本发明涉及一种X射线无损探伤检测方法,特别是涉及一种用底片黑度值测算匀质材料厚度的方法,属于无损检测技术领域。第一步,对被检测匀质材料的厚度进行预先估算,选取标准阶梯试块;第二步,对选定的标准阶梯试块进行射线照相,并用黑度计测量标准阶梯试块对应的黑度值;第三步,对第二步中用黑度计测量的射线底片的黑度值与第一步中选取的标准阶梯试块的厚度值进行拟合,得到拟合公式;第四步,用第二步的方法,对待测匀质材料实施照相,对射线底片的黑度值进行测量,将黑度值代入第三步得到的拟合公式中,即可计算出待测匀质材料的厚度值。
声明:
“用底片黑度值测算匀质材料厚度的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记