一种超声波同时测量涂覆层厚度与内界面粗糙度的方法,属于材料超声无损检测与评价技术领域。该发明采用一个包括试样台、内界面粗糙涂覆层试样、延迟块探头、探伤仪、数字示波器以及计算机的超声脉冲回波检测系统,针对无损表征内界面粗糙涂覆层的厚度与粗糙度难题,推导出了内界面粗糙涂覆层结构的声压反射系数幅度谱|r(f;Rq, d)|,对不同频带宽度内理论与实验的声压反射系数幅度谱进行相关性运算,得到每个带宽下相关系数最大值ηmax(Rq, d)对应的涂覆层厚度di与粗糙度Rqi,分别对不同频率窗内测量的厚度、粗糙度求平均得到与二者即为所求的涂覆层厚度与内界面粗糙度。该方法填补了该类涂覆层厚度与粗糙度无损表征方法的空白。
声明:
“超声波同时测量涂覆层厚度与内界面粗糙度的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)