合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 基于高光谱图像对腐败真菌生长预测的方法

基于高光谱图像对腐败真菌生长预测的方法

1055   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:27
本发明是一种基于高光谱建立水果中腐败真菌生长曲线的方法,属于食品质量安全快速检测和监测的无损技术。通过高光谱成像仪,分别获取真菌不同生长阶段的高光谱图像,分析不同类型不同阶段真菌图像及光谱之间的差别,提取相应的图像和光谱特征参数,分别构建了三种真菌的生长模型,与传统的微生物生长检测手段得到的生真菌长情况相比较,相关系数在0.88-0.96。本发明为微生物及在食品中的生长检测提供了新思路和新技术,能够更方便快捷的建立真菌生长曲线,并能用于水果腐败真菌病害的检测、监测和控制。
声明:
“基于高光谱图像对腐败真菌生长预测的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记