合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 非接触式电光晶体通光面法线与Z轴偏离角测量装置及其测量方法

非接触式电光晶体通光面法线与Z轴偏离角测量装置及其测量方法

648   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:23
一种电光晶体通光面法线与Z轴偏离角测量装置及其测量方法,该装置包括激光器、第一透镜、空间滤波器、第二透镜、起偏器、分光镜、平面反射镜、数字光电自准直仪、第三透镜、第四透镜、检偏器、成像透镜、探测器和计算机处理系统。实验表明,本发明利用锥光干涉原理,实现了待测晶体待测面的非接触式无损检测,保障了测量过程中不引入待测晶体表面划痕,并且适用于大口径电光晶体检测,另外本发明采用数字光电自准直仪标定检测光束的光轴方向,保障了检测光束垂直入射待测晶体,具有测量精度高,测量重复性好的优点,具有很大应用前景。
声明:
“非接触式电光晶体通光面法线与Z轴偏离角测量装置及其测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记