本发明公开了一种基于微波探测技术的半导体亚表面信息测试系统,属于微波探测技术领域,为亚表面信息的无损检测提供了一种新的方法。本系统主要包含三个模块:样品检测模块、信号收发模块、控制模块。首先通过信号收发模块产生一设定频率的微波信号,并将该微波信号输入到样品检测模块当中,样品检测模块将该信号通过探针辐射向待测样品,由于微波具有穿透性,因此该微波信号可以穿过样品表面辐射入样品内部进行无损探测,最终的信号将重新回到信号收发模块中进行显示及分析,从而得出进一步的结论。本发明采用了微波探测手段实现了无损探测,并通过样品检测模块的分级步进实现了更大范围的探测。
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