本发明公开一种双能射线扫描系统、扫描方法以及检查系统,涉及辐射扫描成像检测领域。其中的双能射线扫描系统包括射线源、过滤器;射线源用于发出高能射线和低能射线;过滤器包括低能滤波部分和低能透过部分;当射线源发出高能射线时过滤器的低能滤波部分对准射线源的出束方向,使得高能射线的低能部分被过滤掉、高能射线的高能部分透射出来,当射线源发出低能射线时过滤器的低能透过部分对准射线源的出束方向,使得低能射线透射出来,从而既能提高高能射线的穿透率,又无损低能射线的空间丝分辨能力,同时保障了穿透率指标和空间丝分辨能力指标,使得双能射线可以充分利用其穿透特性的区别对被检物体进行识别,达到安全检查的目的。
声明:
“双能射线扫描系统、扫描方法以及检查系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)