本发明涉及一种电子产品的元器件加速老化检验方法,包括以下几个步骤:准备待测元器件、加水全浸没、置放于高温环境、风干晾干、第一次检测和第二次检测,在第一次检测中:目测风干晾干后的待测元器件表面是否出现损伤;有损伤待测元器件,则被认为检验不合格,该种待测元器件检验终止;无损伤待测元器件,则继续进行后续检验步骤;在第二次检测中,将第一次检测合格的待测元器件,进行焊接组装形成电表;对电表进行电表参数性能检验,判断是否符合标准;其将待测元器件依次加水全浸没、置放高温环境和风干晾干,筛选出无损伤待测元器件后焊接组装进行电表参数性能检验,检验成本较低,提高检测便利性,提高检测效率,有效杜绝电子产品的缺陷。
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