本发明公开了一种奥克托今颗粒表面粗糙度检测方法,该方法通过将奥克托今粗品颗粒精制,确定需要抽取的待测样品的数目,依据随机数表抽取待测样品,测量待测样品的表面粗糙度,计算轮廓算术平均偏差平均值与轮廓算术平均偏差示值误差,最后报告与表示。本发明采用光学法进行测试,实现了无损、非接触测试,量化奥克托今颗粒表面粗糙度值,以此分析和评价高品质奥克托今。
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