本发明公开了一种基于图像熵和递归分析的超声图像缺陷检测方法,属于超声波无损检测技术领域。该方法包括:1、对同一工件或同一批相同工件进行线性阵列相控阵超声扫描,连续采集到多幅B扫描图像;2、对采集到的B扫描图像进行灰度化和中值滤波预处理;3、计算预处理后B扫描图像的图像熵,得到B扫描图像熵序列;4、计算并选择图像熵序列的时间延迟和嵌入维数,将其作为递归分析所用的参数;5、根据选取的参数对图像熵序列进行递归分析,得到序列的递归图,根据递归图判断采集的图像中是否存在含有缺陷的B扫描图像。本发明可以有效识别多幅B扫描图像中的缺陷,不需要进行图像截取分割操作,存储数据量小,识别效率高,适用性强。
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