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相控阵检测校准试块

751   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:20
本实用新型公开了一种相控阵检测校准试块,其包括主体部为矩形块,其顶面配置有台阶结构,相邻台阶结构的高度差相等;所述台阶结构还配置有测试孔,所述测试孔沿所述主体部的纵向设置,其自所述主体部的一个侧面沿纵向延伸而成;相邻测试孔的纵向长度不同;所述主体部包括第一台阶结构、第二台阶结构、第三台阶结构、第四台阶结构、第五台阶结构和第六台阶结构,台阶结构对应顶面的粗糙度不大于Ra3.2。本实用新型提供的一种相控阵检测校准试块,用于不等厚复杂铸铁件的无损检测,其结构合理,使用方便,通过一个校准试块完成校核,提高了校核效率,有利于准确高效的完成相关测试。
声明:
“相控阵检测校准试块” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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无损检测
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