合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> SOI晶圆质量检测方法及系统

SOI晶圆质量检测方法及系统

582   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:20
本发明提供了一种SOI晶圆质量检测方法及系统,检测方法包括如下步骤:提供SOI晶圆,SOI晶圆包括衬底层、埋氧层和半导体层;放置第一压力探针和第二压力探针;将第一压力探针接地,对第二压力探针施加恒定的第一电压,对衬底层施加变化的第二电压;根据不同第二电压及所对应的第一电流数据提取测试表面迁移率,并与理论表面迁移率进行比对,以评估SOI晶圆的质量。本发明针对SOI晶圆质量的快速评估需求,通过对测试结构进行电流电压测试,提取表面迁移率,与理论值进行比对,揭示了能够表征SOI晶圆质量的电学特性,实现了对SOI晶圆质量的无损评估,对于太阳能电池SOI晶圆的工艺开发具有重要意义。
声明:
“SOI晶圆质量检测方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记