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基于频谱分析原理减小TOFD检测近表面盲区的方法

786   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:19
一种基于频谱分析原理减小TOFD检测近表面盲区的方法,属于超声无损检测技术领域。该方法采用一套包括TOFD超声检测仪、集成TOFD操作软件的计算机、TOFD探头、扫查装置、校准试块及数字示波器构成的超声测试系统。针对TOFD检测中近表面区域进行扫查,对采集到的包含有缺陷信息的混叠时域信号进行频谱分析,读取幅度谱中谐振频率,结合材料纵波声速计算出直通波与缺陷上尖端衍射波声程差,进而确定近表面盲区内缺陷埋深。与其他减小近表面盲区深度的方法相比,该方法对硬件系统无额外要求,不受限于被检工件厚度,具有较好的工程应用价值。
声明:
“基于频谱分析原理减小TOFD检测近表面盲区的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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